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微波半導體芯片綜合參數在片測試系統

文章(zhang)來源:中國(guo)電(dian)子科技集團公司(si)  發(fa)布時間(jian):2024-05-20

127.微波半導體芯片(pian)綜合(he)參(can)數在(zai)片(pian)測試系統

【所屬領域】分(fen)析測試儀器

【中(zhong)央企業(ye)名稱(cheng)】中(zhong)國電子(zi)科技集團公司(si)

【成果簡介】

本產(chan)品采(cai)用基于相干信號的負載(zai)牽引以及(ji)(ji)(ji)基于矢量(liang)誤差修(xiu)正的噪(zao)聲(sheng)系(xi)數測(ce)量(liang)方(fang)案,具(ju)有連(lian)續波(bo)及(ji)(ji)(ji)脈沖S參數、等(deng)(deng)功(gong)率圓(yuan)、等(deng)(deng)效率圓(yuan)、噪(zao)聲(sheng)系(xi)數、交調(diao)等(deng)(deng)參數的在片(pian)(pian)測(ce)量(liang)功(gong)能(neng),以及(ji)(ji)(ji)在片(pian)(pian)校(xiao)準功(gong)能(neng)。產(chan)品測(ce)試功(gong)能(neng)豐富,具(ju)有反射系(xi)數調(diao)諧(xie)范圍大、測(ce)量(liang)速度快、校(xiao)準算(suan)法精確等(deng)(deng)特點。廣(guang)泛應用于微波(bo)功(gong)率芯(xin)(xin)片(pian)(pian)、低噪(zao)聲(sheng)芯(xin)(xin)片(pian)(pian)、濾波(bo)芯(xin)(xin)片(pian)(pian)設(she)計、生(sheng)產(chan)、檢驗等(deng)(deng)環節,為芯(xin)(xin)片(pian)(pian)設(she)計優(you)化(hua)、工藝改進(jin)、生(sheng)產(chan)檢驗提供測(ce)試支撐作(zuo)用。產(chan)品技術成熟度達到(dao)8級。

【主要指標】

(一)頻率范(fan)圍:10MHz~67GHz

(二)等噪聲系數圓(yuan)頻率測(ce)量范圍:10MHz~67GHz

(三(san))噪(zao)聲系數測量范圍(wei):≥30dB

(四)Smith圓圖(反射(she)系數)最(zui)大調諧范圍:≥0.99

(五)探(tan)針間距(ju)精度:±25μm

(六)校(xiao)準(zhun)片(pian)類(lei)型:TRL、SOLT校(xiao)準(zhun)片(pian)等(deng)系(xi)列

【應用推廣需求】

(一)應用推(tui)廣方式:銷(xiao)售

(二)應(ying)用(yong)推(tui)廣領域:本產品(pin)應(ying)用(yong)于(yu)微波(bo)半導(dao)體(ti)芯(xin)片(pian)(pian)的芯(xin)片(pian)(pian)設計、芯(xin)片(pian)(pian)制造(zao)、芯(xin)片(pian)(pian)檢驗、芯(xin)片(pian)(pian)應(ying)用(yong)等產業環節(jie),滿足(zu)微波(bo)半導(dao)體(ti)芯(xin)片(pian)(pian)、微波(bo)集成電路(MMIC)等微波(bo)半導(dao)體(ti)芯(xin)片(pian)(pian)的測試需求。

【成果圖片】

【聯系人】

集團聯(lian)系人(ren):丁一牧(mu),010-84352395(13552993699),dingyimu@vip.163.com

成果(guo)聯(lian)系人:汪定華,18505528366,m13910851102@163.com

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【責任編輯:王莉】

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