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127.微波半(ban)導體芯片綜合(he)參數在(zai)片測試系統(tong)

【所屬領域】分析測試儀器

【中央(yang)企業名稱】中國電子科技集團公司(si)

【成果簡介】

本產(chan)(chan)品(pin)采用基(ji)于(yu)相干(gan)信號(hao)的(de)負(fu)載(zai)牽(qian)引(yin)以及基(ji)于(yu)矢量(liang)誤差修正的(de)噪聲系(xi)(xi)數(shu)(shu)(shu)測量(liang)方(fang)案，具有(you)連續波及脈沖S參數(shu)(shu)(shu)、等(deng)功率(lv)圓、等(deng)效率(lv)圓、噪聲系(xi)(xi)數(shu)(shu)(shu)、交調等(deng)參數(shu)(shu)(shu)的(de)在片測量(liang)功能，以及在片校(xiao)準(zhun)功能。產(chan)(chan)品(pin)測試(shi)功能豐富，具有(you)反(fan)射系(xi)(xi)數(shu)(shu)(shu)調諧范圍大、測量(liang)速度(du)快、校(xiao)準(zhun)算法精確等(deng)特點。廣泛應用于(yu)微波功率(lv)芯片、低噪聲芯片、濾波芯片設計(ji)、生產(chan)(chan)、檢(jian)驗(yan)等(deng)環節，為芯片設計(ji)優化、工藝(yi)改進、生產(chan)(chan)檢(jian)驗(yan)提(ti)供測試(shi)支撐(cheng)作用。產(chan)(chan)品(pin)技術(shu)成熟度(du)達(da)到8級(ji)。

【主要指標】

（一）頻率范圍(wei)：10MHz～67GHz

（二）等噪(zao)聲系數圓頻率(lv)測量范圍：10MHz～67GHz

（三）噪聲系數測量范(fan)圍：≥30dB

（四）Smith圓圖(tu)（反射系數）最大調(diao)諧范圍：≥0.99

（五(wu)）探針間距精(jing)度：±25μm

（六）校(xiao)準(zhun)片類型：TRL、SOLT校(xiao)準(zhun)片等系列

【應用推廣需求】

（一）應用(yong)推(tui)廣方式：銷售

（二）應(ying)用推廣領(ling)域(yu)：本產(chan)(chan)品應(ying)用于微波(bo)半導體(ti)芯片的芯片設計、芯片制造、芯片檢驗、芯片應(ying)用等產(chan)(chan)業環(huan)節，滿足微波(bo)半導體(ti)芯片、微波(bo)集成(cheng)電(dian)路（MMIC）等微波(bo)半導體(ti)芯片的測試需求。

【成果圖片】

【聯系人】

集團(tuan)聯系人：丁(ding)一牧，010-84352395（13552993699），dingyimu@vip.163.com

成果聯系人：汪定(ding)華，18505528366，m13910851102@163.com

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【責任編輯：王莉】