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127.微(wei)波半導體芯(xin)片綜合(he)參數(shu)在片測試系統(tong)

【所屬領(ling)域】分析測(ce)試儀器

【中(zhong)央企業名(ming)稱】中(zhong)國電子科技集團公司

【成果簡介】

本產(chan)(chan)品(pin)采用基于(yu)相(xiang)干信號(hao)的負載牽引(yin)以及(ji)基于(yu)矢量誤(wu)差修正的噪(zao)聲(sheng)系(xi)數測(ce)(ce)量方(fang)案，具有連(lian)續波及(ji)脈沖(chong)S參數、等功(gong)(gong)率圓(yuan)、等效率圓(yuan)、噪(zao)聲(sheng)系(xi)數、交(jiao)調等參數的在片測(ce)(ce)量功(gong)(gong)能(neng)，以及(ji)在片校(xiao)準(zhun)功(gong)(gong)能(neng)。產(chan)(chan)品(pin)測(ce)(ce)試功(gong)(gong)能(neng)豐富，具有反射(she)系(xi)數調諧范圍大、測(ce)(ce)量速(su)度快、校(xiao)準(zhun)算法精(jing)確等特點。廣(guang)泛應用于(yu)微波功(gong)(gong)率芯片、低噪(zao)聲(sheng)芯片、濾波芯片設(she)計、生產(chan)(chan)、檢驗等環節，為芯片設(she)計優化、工藝改進、生產(chan)(chan)檢驗提供測(ce)(ce)試支(zhi)撐作(zuo)用。產(chan)(chan)品(pin)技術成熟度達到8級(ji)。

【主要指標】

（一）頻率范圍：10MHz～67GHz

（二）等噪聲系(xi)數圓頻(pin)率測量范圍：10MHz～67GHz

（三）噪聲系數測量范圍：≥30dB

（四(si)）Smith圓圖（反射系數）最大調諧范(fan)圍：≥0.99

（五）探針(zhen)間距(ju)精度(du)：±25μm

（六）校準片(pian)類(lei)型(xing)：TRL、SOLT校準片(pian)等系列(lie)

【應用推廣需求】

（一）應用推(tui)廣方式(shi)：銷售

（二(er)）應用推廣領域：本產(chan)品應用于微(wei)波(bo)半(ban)(ban)導體(ti)(ti)芯片(pian)(pian)的(de)芯片(pian)(pian)設計、芯片(pian)(pian)制(zhi)造、芯片(pian)(pian)檢(jian)驗、芯片(pian)(pian)應用等產(chan)業環節，滿足微(wei)波(bo)半(ban)(ban)導體(ti)(ti)芯片(pian)(pian)、微(wei)波(bo)集成電路（MMIC）等微(wei)波(bo)半(ban)(ban)導體(ti)(ti)芯片(pian)(pian)的(de)測(ce)試需求。

【成果圖片】

【聯系人】

集團聯系人(ren)：丁一牧，010-84352395（13552993699），dingyimu@vip.163.com

成果聯系人：汪定華，18505528366，m13910851102@163.com

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【責任編輯：王莉】