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微波半導體芯片綜合參數在片測試系統

文章來源(yuan):中(zhong)國電子科技集團公司  發布時間:2024-05-20

127.微波半(ban)導體芯片(pian)(pian)綜(zong)合參數在片(pian)(pian)測(ce)試系(xi)統

【所屬領域】分析測試(shi)儀(yi)器

【中(zhong)央企業(ye)名稱】中(zhong)國電子科技集團公司(si)

【成果簡介】

本產(chan)(chan)(chan)品采(cai)用基(ji)于相干信號的負載(zai)牽(qian)引以及基(ji)于矢量誤(wu)差修正的噪聲(sheng)系(xi)數(shu)測(ce)量方(fang)案,具有(you)連續波(bo)及脈(mo)沖S參(can)數(shu)、等(deng)(deng)功(gong)率圓、等(deng)(deng)效率圓、噪聲(sheng)系(xi)數(shu)、交調(diao)等(deng)(deng)參(can)數(shu)的在片(pian)(pian)測(ce)量功(gong)能,以及在片(pian)(pian)校準功(gong)能。產(chan)(chan)(chan)品測(ce)試功(gong)能豐富(fu),具有(you)反射系(xi)數(shu)調(diao)諧范圍(wei)大、測(ce)量速度快、校準算法精確等(deng)(deng)特點。廣(guang)泛應用于微(wei)波(bo)功(gong)率芯(xin)片(pian)(pian)、低(di)噪聲(sheng)芯(xin)片(pian)(pian)、濾(lv)波(bo)芯(xin)片(pian)(pian)設計(ji)、生(sheng)產(chan)(chan)(chan)、檢(jian)(jian)驗等(deng)(deng)環節,為芯(xin)片(pian)(pian)設計(ji)優化(hua)、工藝改進(jin)、生(sheng)產(chan)(chan)(chan)檢(jian)(jian)驗提(ti)供測(ce)試支(zhi)撐作用。產(chan)(chan)(chan)品技術成熟度達(da)到8級(ji)。

【主要指標】

(一)頻率范圍:10MHz~67GHz

(二)等(deng)噪(zao)聲系數圓頻(pin)率測(ce)量(liang)范圍:10MHz~67GHz

(三)噪聲系數測量范圍:≥30dB

(四)Smith圓圖(反射系數(shu))最(zui)大調諧范圍:≥0.99

(五)探(tan)針間(jian)距精度:±25μm

(六)校準片(pian)類型(xing):TRL、SOLT校準片(pian)等系(xi)列

【應用推廣需求】

(一)應用推廣方式:銷售(shou)

(二)應(ying)(ying)用(yong)推廣領(ling)域:本(ben)產品應(ying)(ying)用(yong)于微(wei)波半(ban)導(dao)(dao)(dao)體芯(xin)片(pian)的芯(xin)片(pian)設計、芯(xin)片(pian)制(zhi)造、芯(xin)片(pian)檢驗(yan)、芯(xin)片(pian)應(ying)(ying)用(yong)等產業(ye)環節,滿足微(wei)波半(ban)導(dao)(dao)(dao)體芯(xin)片(pian)、微(wei)波集成電路(MMIC)等微(wei)波半(ban)導(dao)(dao)(dao)體芯(xin)片(pian)的測試需求。

【成果圖片】

【聯系人】

集團(tuan)聯系人:丁一牧,010-84352395(13552993699),dingyimu@vip.163.com

成果聯系人:汪定華,18505528366,m13910851102@163.com

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【責任編輯:王莉】

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