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短波長X射線衍射儀

文章(zhang)來源:中(zhong)國(guo)兵器裝備集團有限公司  發(fa)布時間:2022-05-21

40.短(duan)波長X射線衍射儀

【所屬(shu)領域(yu)】分析(xi)測(ce)試儀(yi)器、高(gao)端裝(zhuang)備

【中(zhong)央(yang)企業(ye)名稱(cheng)】中(zhong)國(guo)兵(bing)器(qi)裝備集團有限公司

【技術產(chan)品簡介】短波長(chang)X射(she)線衍(yan)射(she)儀是擁有自主知識產(chan)權的(de)短波長(chang)特(te)征X射(she)線衍(yan)射(she)技術產(chan)品,首先(xian)解決了我國(guo)無(wu)損(sun)測(ce)定厘米級厚度(du)(du)工件(jian)內(nei)部(殘(can)(can)余(yu))應(ying)力(li)(li)、織構(gou)、物相、晶界缺(que)陷及其(qi)分(fen)(fen)布(bu)的(de)難題,填補了國(guo)內(nei)外無(wu)損(sun)檢測(ce)分(fen)(fen)析(xi)內(nei)部衍(yan)射(she)信息的(de)小(xiao)型化(hua)儀器設備空白。該儀器利(li)用重金(jin)屬(shu)靶X射(she)線管作為輻(fu)射(she)源,采(cai)用光(guang)量(liang)子能量(liang)分(fen)(fen)析(xi)的(de)無(wu)強(qiang)度(du)(du)衰減單色化(hua)、精(jing)密(mi)測(ce)量(liang)分(fen)(fen)析(xi)等技術,最大可(ke)測(ce)厚度(du)(du)達(da)40mm鋁當量(liang),晶面間距(ju)測(ce)試誤(wu)差(cha)小(xiao)于(yu)±0.00006nm,內(nei)部(殘(can)(can)余(yu))應(ying)力(li)(li)測(ce)試誤(wu)差(cha)小(xiao)于(yu)±25MPa。可(ke)應(ying)用于(yu)先(xian)進材料、先(xian)進制(zhi)造和基礎研究(jiu)領域,如(ru)預拉伸鋁板、渦輪葉片、裝配件(jian)、焊接件(jian)、熱處理(li)件(jian)等控形控性的(de)加工工藝優化(hua)和制(zhi)造,以及材料/工件(jian)內(nei)部應(ying)力(li)(li)及其(qi)分(fen)(fen)布(bu)等的(de)演變規律研究(jiu)。

【產品圖片】


 



【與國外同(tong)類技術(shu)產品對比情況】

技術對比情況:領先

價格對比情況:低于

國(guo)外技術產(chan)(chan)品廠(chang)家(jia)及名稱:國(guo)外無同(tong)類產(chan)(chan)品

【技術指標】

1.最大(da)可測厚度—樣品(pin)的厚度:70mm鎂,40mm鋁,8mm鈦,4mm鋼,4mm鎳等。

2.管(guan)電(dian)壓(ya)及最大(da)功(gong)率—穿透深(shen)度和效(xiao)率:管(guan)電(dian)壓(ya)≥225kV,最大(da)功(gong)率≥3kW。

3.內部殘余(yu)應力測(ce)(ce)定誤(wu)差—儀器的綜合(he)應力測(ce)(ce)試精度(du):小(xiao)于±25MPa。

4.晶面間距(ju)(ju)測量重復性誤差—儀器的晶面間距(ju)(ju)測試(shi)精度:小于(yu)±0.00006nm。

5.最小(xiao)衍射體積(ji)—測試部位的(de)大小(xiao):0.1×1.0×2.0(mm)。

6.樣品臺X、 Y、 Z行程及定(ding)位精度—樣品可移動測試范圍及定(ding)位精度:200mm、100mm、100mm,定(ding)位精度優于±0.05mm。

【責任編輯:家正】

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